知識專欄
HCN卓躍科技提供多品牌XRF膜厚分析設備適用膜厚鍍層標準片！
您是否正在尋找膜厚標準片？HCN卓躍科技為各大廠牌XRF鍍層分析設備提供理想的解決方案。不論您使用的是：
• Hitachi: 膜厚標準片檢測FT系列、SFT-110系列
• Hitachi: 元素厚度檢測EA系列
• Hitachi (Oxford): X-Strata920 XRF、X-MET 7500
• Thermo Fisher: RM系列
我們提供高品質且相容的膜厚標準片，滿足單層、多層、合金、Ni-P化學電鍍及其他客製化膜厚解決方案，確保您的分析設備達到最佳性能。
產品亮點：
✔ 適用於手持式與桌上型XRF鍍層分析設備
✔ 客製化膜厚解決方案，滿足各種檢測需求
✔ 提供ISO實驗室校驗服務，確保精準與可靠性
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HCN卓躍科技股份有限公司
熱分析測試樣品盤的選擇與校正指南
在進行熱分析測試時，樣品盤在選擇的時候不外乎考慮測試溫度、樣品盤材質、尺寸及配套設備，例如壓碇機的壓碇頭規格，在分析做高溫的檢測普遍都是金屬及陶瓷材料，但需要留意到同類型材質的部分產生會共融例如 金屬類的就不會用金屬盤、陶瓷類的就不會用陶瓷盤，這些也同步關係到樣品的適配性與設備的安全性。通常性質相同的材質，下面我們將介紹如何根據測試需求選擇合適的樣品盤，選購前應考慮的關鍵因素（包括樣品盤樣品盤壓錠機的配合）、應用範例，以及更換不同尺寸或樣品盤時重新校正的注意事項。
XRF膜厚測試、環境有害元素分析、化合物檢測應用 (客製化) 標準品介紹
我們致力於提供世界上最齊全用於XRF檢測相關的認證標準品，包含薄膜和厚膜（單層和多層）、合金薄膜、包括合金和純元素在內的散裝標準、貴金屬標準、WEEE/RoHS 標準以及其他適用於廣泛領域的標準品更包含客戶需求客製化產品製作，不論是任何元素材質厚度或元素化合物合成需求。