知識專欄
鍍層膜厚標準片的重要性與重新認證的必要性
卓躍HCN提供膜厚標準品重新校驗服務，對於標準品的厚度數值等進行正確維護和校準厚度標準，讓所有XRF厚度測試儀器可獲得準確、可靠的結果。
積分球光度儀原理應用
積分球光度儀是一種廣泛用於測量光源光強度、顏色和光譜的光學儀器。該類儀器可以測量所有角度反射的光線，從而計算出與人眼所見非常接近的顏色測量值。
鍍層膜厚標準品校正是否會影響XRF膜厚分析儀測試準確度
一般膜厚儀Thickness gauge為例:兩個軟體模式分別是一個是FP膜厚法、一個是檢量線法，所需要使用到的金屬膜厚標準片標準品建置的種類及數目也不太相同，故測試上也會因此而影響到準確度。
XRF膜厚測試、環境有害元素分析、化合物檢測應用 (客製化) 標準品介紹
我們致力於提供世界上最齊全用於XRF檢測相關的認證標準品，包含薄膜和厚膜（單層和多層）、合金薄膜、包括合金和純元素在內的散裝標準、貴金屬標準、WEEE/RoHS 標準以及其他適用於廣泛領域的標準品更包含客戶需求客製化產品製作，不論是任何元素材質厚度或元素化合物合成需求。
熱分析掃描分析儀DSC樣品盤的選擇
熱分析TA檢測上樣品盤如同瓦斯爐上所使用的鍋子，不同廠牌如瓦斯爐加熱氣，有些適合鑄鐵鍋、有些適合不鏽鋼鍋，熱分析樣品盤的選擇也是一樣，本篇介紹熱分析檢測DSC樣品盤常見的樣品盤選擇技巧及應用類型說明，第一大類根據樣品型態、第二大類根據樣品盤材質，耗材網提供了原廠、副廠及多種樣品盤的選擇方式。