知識專欄
XRF 與 X 射線成像：薄膜視窗材料的性能比較與應用
在 X 射線應用中，選擇薄膜視窗材料需考量穿透率、機械強度、耐高溫性及厚度平衡。本文比較 Prolene、Mylar、Kapton 等材料特性，並推薦適合 XRF、成像及真空應用的最佳選擇。
HCN卓躍科技提供多品牌XRF膜厚分析設備適用膜厚鍍層標準片！
您是否正在尋找膜厚標準片？HCN卓躍科技為各大廠牌XRF鍍層分析設備提供理想的解決方案。不論您使用的是：
• Hitachi: 膜厚標準片檢測FT系列、SFT-110系列
• Hitachi: 元素厚度檢測EA系列
• Hitachi (Oxford): X-Strata920 XRF、X-MET 7500
• Thermo Fisher: RM系列
我們提供高品質且相容的膜厚標準片，滿足單層、多層、合金、Ni-P化學電鍍及其他客製化膜厚解決方案，確保您的分析設備達到最佳性能。
產品亮點：
✔ 適用於手持式與桌上型XRF鍍層分析設備
✔ 客製化膜厚解決方案，滿足各種檢測需求
✔ 提供ISO實驗室校驗服務，確保精準與可靠性
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HCN卓躍科技股份有限公司
熱分析測試樣品盤的選擇與校正指南
在進行熱分析測試時，樣品盤在選擇的時候不外乎考慮測試溫度、樣品盤材質、尺寸及配套設備，例如壓碇機的壓碇頭規格，在分析做高溫的檢測普遍都是金屬及陶瓷材料，但需要留意到同類型材質的部分產生會共融例如 金屬類的就不會用金屬盤、陶瓷類的就不會用陶瓷盤，這些也同步關係到樣品的適配性與設備的安全性。通常性質相同的材質，下面我們將介紹如何根據測試需求選擇合適的樣品盤，選購前應考慮的關鍵因素（包括樣品盤樣品盤壓錠機的配合）、應用範例，以及更換不同尺寸或樣品盤時重新校正的注意事項。
光學薄膜：從聚酯薄膜 Mylar 到耐高溫材料，哪種薄膜最適合你的應用？
選擇適合的光學薄膜對於X射線檢測至關重要。聚酯薄膜 Mylar、Prolene 和 Kapton 等薄膜具備耐高溫和優良的化學穩定性，適用於不同應用環境。Mylar薄膜特別適合X射線分析和機械保護，而Prolene則在高能量穿透測試中表現出色。選擇合適的薄膜材料需考慮光學性質、機械強度及成本，以確保最佳的檢測結果和儀器保護。如需協助選擇適合的檢測薄膜，歡迎聯繫我們！
選購標準品(參考物質)：CRM、RM、SRM、ERM的差別與正確選用方法
卓躍NCH提供查找各式檢測分析上需求標準品，參考物質（RM）和標準品在實驗室和工業中確保分析準確性。參考物質（Reference Material, RM）和標準品（Standard Material）在實驗室及工業中確保分析的準確性。RM具備均勻性與穩定性，適用於校正儀器及品質控制。認證參考物質（CRM）經過第三方認證，滿足高準確度需求。標準參考物質（SRM）由NIST提供，廣泛應用於科研。歐洲參考物質（ERM）則支持歐洲法規。若您對標準品應用有任何需求，歡迎與我們卓躍聯絡。
數位顯微鏡的優勢將如何改變您的觀測方式
數位顯微鏡結合了光學顯微鏡的高精度和數位技術的便利性，在各個領域都具有廣闊的應用前景。其優點包括影像呈現清晰、操作簡便、應用範圍廣泛、影像處理功能強大等。隨著科技的進步，數位顯微鏡的性能將不斷提升，為我們探索微觀世界提供更強大的工具。
鍍層膜厚標準片的重要性與重新認證的必要性
卓躍HCN提供膜厚標準品重新校驗服務，對於標準品的厚度數值等進行正確維護和校準厚度標準，讓所有XRF厚度測試儀器可獲得準確、可靠的結果。
積分球光度儀原理應用
積分球光度儀是一種廣泛用於測量光源光強度、顏色和光譜的光學儀器。該類儀器可以測量所有角度反射的光線，從而計算出與人眼所見非常接近的顏色測量值。