元素鍍層厚度測量儀或是桌上型XRF元素分析儀的膜厚功能，都可以測試金屬鍍膜層厚度，這兩種設備主要是以EDX 能量散射式螢光分析儀XRF的設計原理為主，用途多用於各種金屬保護電鍍的電子零件、印刷電路板、導線架、IC、五金零件、 LED, MLCC….
一般膜厚分析儀Thickness gauge為例:兩個軟體模式分別是一個是FP膜厚法、一個是檢量線法，所需要使用到的標準品建置的種類及數目也不太相同，故測試上也會因此而影響到準確度。
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鍍層膜厚標準品校正是否會影響XRF膜厚分析儀測試準確度
https://hcnshop.com/knowledge/thickness-xrf-standards-231116


HCNShop有提供膜後儀專用口徑小的校正標準片、也有適合手持式XRF使用的大口徑校正用標準片。

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