膜厚標準片Plate銅鍍錫鉛,Sn-Pb/Cu (40μm,Sn60%)

產品編號

A003-10201

規格 & 說明

Standard SamplePlate,Sn-Pb/Cu40μm/Sn60% ]

應用類型

適用於常見的各式膜厚設備分析校正用。
依據客戶需求挑選不同材質厚度之校正參考物質。

校正參考物質(Reference Materials)為經過可追溯實驗室認證標準，這個標準實驗室的產品可用於校正X-ray fluorescence(XRF)進行鍍膜厚度的量測數值校正及驗證。

我們能夠專門為具有獨特測量需求的客戶開發難以製作和定制的標準品，同時也提供校正參考物質(標準片)認證實驗室Re-Calibration Certificate 重新校驗標準片的認證動作，歡迎進一步與我們接洽討論。

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  • 適用機型

適用於各廠牌型號的膜厚分析檢測設備 (All Thickness guage Brand)

Hitachi
  • FT160S/ FT160Sh/ FT160/ FT160h/ FT160L/FT160Lh
  • FT110A (FT110)/FT150/FT-230
  • SFT-110/SFT110A/SFT9200/SFT9300
  • SEA1000A、SEA1000AII、EA1000AIII、EA6000、EA1400
Hitachi (Oxford)
  • X-Strata920 XRF
  • X-MET 7500
Thermo Fisher
  • RM110EM Gauge
  • RM310EC-LE Gauge
  • RM300EL
  • RM312 225kV
  • RM315EC
  • RM210AF
  • RM215 120kV
  • RM215 HM
BOWMAN
  • G/B/P/O/M/L series
ISP
  • iEDX-150T
  • iEDX-150μT
  • iEDX-150WT
  • iEDX-150μWT

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