膜厚標準片鈦鎢鍍層手持式 XRF Ti-W
產品編號
A2S0010062
規格 & 說明
Bulk Alloys Handheld XRF Ti-W
應用類型
適用於常見的手持式XRF(Hand Held XRF)膜厚設備分析校正用。
依據客戶需求挑選不同材質厚度之校正參考物質。
校正參考物質(Reference Materials)為經過可追溯ISO/IEC 17026實驗室認證標準，這個標準實驗室的產品可用於校正X-ray fluorescence(XRF)進行鍍膜厚度的量測數值校正及驗證。
Coating Thickness XRF Standards > Hand Held XRF >Single and Multi-layer
Coating Thickness XRF Standards > Hand Held XRF >Alloy Layer
Coating Thickness XRF Standards > Hand Held XRF >Infinites & Bases
Coating Thickness XRF Standards > Hand Held XRF >Bulk Alloys
Coating Thickness XRF Standards > Hand Held XRF >Jewelry Alloys
我們能夠專門為具有獨特測量需求的客戶開發難以製作和定制的標準品，同時也提供校正參考物質(標準片)認證實驗室Re-Calibration Certificate 重新校驗標準片的認證動作，歡迎進一步與我們接洽討論。
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- 其他規格
| Hitachi High-Tech Analytical Science (Oxford Instruments) | X-MET系列：X-MET8000 Smart、X-MET8000 Optimum、X-MET8000 Expert |
| Bruker | S1 TITAN系列：Model 800、Model 500S、Model 500 TRACER 5系列：TRACER 5g、TRACER 5i |
| Thermo Fisher Scientific | Niton XL5、Niton™ XL2 Plus、NITON XL3t GOLDD+、NITON XL3t |
| EVIDENT (Olympus) | Vanta系列：Vanta Element SDD Series、VANTA M series、VANTA C series、VANTA L series、Vanta Element Series |
| SciAps XRF | X-Series 系列: X-5、X-50、X-200、X-505、X-550、X-555 |
| SPECTRO | xSORT |
| Fischer | X-RAY XAN®500 |
| Nominal Composition | |
| % Titanium 鈦 | % Tungsten 鎢 |
| 10 | 90 |
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