膜厚標準片 Foil Ni ( 鎳箔 / 1μm )
產品編號
A003-10048
規格 & 說明
XRF Coating Thickness Nickel
Standard Sample, Foil, Ni (1μm)
應用類型
適用於常見的XRF膜厚設備分析校正用。
Hitachi, SII, SII nano, XRF, FT, SFT, Fisher, Thermo Fisher
膜厚儀校正/Thickness guage instrument calibration
依據客戶需求挑選不同材質厚度之校正參考物質。(俗稱:膜厚標品, 膜厚標準片, 金屬鍍膜標準片)
校正參考物質(Reference Materials)為經過可追溯實驗室認證標準，這個標準實驗室的產品可用於校正X-ray fluorescence(XRF)進行鍍膜厚度的量測數值校正及驗證。
我們能夠專門為具有獨特測量需求的客戶開發難以製作和定制的標準品，同時也提供校正參考物質(標準片)認證實驗室Re-Calibration Certificate 重新校驗標準片的認證動作，歡迎進一步與我們接洽討論。
數量 :
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- 適用機型
適用於各廠牌、機型的膜厚設備(Thickness guage Brand)的
膜厚儀校正Thickness guage instrument calibration
| Hitachi |
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| Hitachi (Oxford) |
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| Thermo Fisher |
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| BOWMAN |
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| ISP |
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